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    產品展示
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    產品名稱:鍍金X射線無損測厚儀

    產品型號:

    產品報價:

    產品特點:韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀
    測量鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...可測單層,雙層,多層,合金鍍層,
    鍍金X射線無損測厚儀

    鍍金X射線無損測厚儀的詳細資料:

    鍍金X射線無損測厚儀

    韓國先鋒 XRF-2000

    X射線鍍層測厚儀

    電鍍膜厚儀

     

    產品介紹

    熒光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質成分,可用于材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。  

     

    XRF-2000 系列
     

    1. H型: 密閉式樣品室,方便測量的樣品較大,高度約100mm以下。  
    2. L型:  密閉式樣品室,方便測量 樣品較小,高度約30mm以下。  

    3. PCB型:  開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下

     

    應用 : 

    檢測電子電鍍,PCB板,五金電鍍層厚度

    測量范圍根據不同鍍層0.04-35um

    精度控制
     

    表層:±5%以內
    第二層:±8%以內
    第三層:±12%以內


    測量鍍金、鍍銀,鍍銅,鍍鎳,鍍鉻,鍍鋅,鍍錫,鍍鈀等,其可偵測元素的范圍: Ti(22)~U(92 )。   
     

    特色 :
      

    非破壞,非接觸式檢測分析,快速精確。 
    可測量高達六層的鍍層 (五層厚度   底材 ) 并可同時分析多種元素。 
    相容Microsoft微軟作業系統之測量軟體,操作方便,直接可用Office軟體編輯報告 。 
      全系列*設計樣品與光徑自動對焦系統。 
      標準配備溶液分析軟體 ,可以分析電鍍液成份與含量。 
     準直器口徑多種選擇,可根據樣品大小來選擇準值器的口徑。  
      
    移動方式:全系列全自動載臺電動控制,減少人為視差 。  
      *2D3D或任意位置表面量測分析。 
      雷射對焦,配合CCD攝取影像使用point and shot功能。 

    標準ROI軟體 搭配內建多種專業報告格式,亦可將數據、圖形、統計等作成完整報告 。 

    光學20倍影像放大功能,更能精確對位。  

    單位選擇: mils 、 uin 、 mm 、 um 。 
     

    韓國MICRO PIONEER

    XRF-2000鍍層測厚儀

    優于美制儀器的設計與零件可 靠度以及擁有價格與零件的*優勢。  

      鍍金X射線無損測厚儀
     

    層測厚儀,電鍍測厚儀,鍍層測厚儀,X光膜厚儀,鍍層膜厚檢測儀,電鍍鍍層測厚儀,XV鍍層測厚儀,X-RAY鍍層膜厚檢測儀,鍍層厚度測試儀,電鍍測厚儀,鍍層膜厚儀

     

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