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    產品展示
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    產品名稱:XRF-2000X射線鍍層測厚儀

    產品型號:

    產品報價:

    產品特點:韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀檢測電子電鍍,化學電鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
    韓國先鋒X-RAY膜厚儀可測單層,雙層,多層,合金鍍層,
    韓國Micro Pioneer XRF-2000X射線鍍層測厚儀

    XRF-2000X射線鍍層測厚儀的詳細資料:

     

     

    韓國Micro Pioneer XRF-2000X射線鍍層測厚儀  

     

    應用 : 

    檢測電子電鍍,PCB板,五金電鍍層厚度

    測量范圍根據不同鍍層0.04-35um

    精度控制
          *層:±5%以內
          第二層:±8%以內
          第三層:±12%以內


    測量鍍金、鍍銀,鍍銅,鍍鎳,鍍鉻,鍍鋅,鍍錫,鍍鈀等,其可偵測元素的范圍: Ti(22)~U(92 )。   
     

    特色 :
      

    非破壞,非接觸式檢測分析,快速精確。 
    可測量高達六層的鍍層 (五層厚度   底材 ) 并可同時分析多種元素。 
    相容Microsoft微軟作業系統之測量軟體,操作方便,直接可用Office軟體編輯報告 。 
      全系列*設計樣品與光徑自動對焦系統。 
      標準配備溶液分析軟體 ,可以分析電鍍液成份與含量。 
      準直器口徑多種選擇,可根據樣品大小來選擇準值器的口徑。  
      
    移動方式:全系列全自動載臺電動控制,減少人為視差 。  
      *2D3D或任意位置表面量測分析。 
      雷射對焦,配合CCD攝取影像使用point and shot功能。 

    標準ROI軟體 搭配內建多種專業報告格式,亦可將數據、圖形、統計等作成完整報告 。 

    光學20倍影像放大功能,更能精確對位。  

    單位選擇: mils 、 uin 、 mm 、 um 。 
      

    優于美制儀器的設計與零件可 靠度以及擁有價格與零件的優勢。  
     

     

    韓國Micro Pioneer還推出一款元素分析及測厚兩用的XRF-2000R型號

    Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀

    是在XRF-2000系列測厚儀的基礎上增加了元素分析及有害物質檢測的功能,

    其物點為:高分辨率,固態探測器;可分析超薄樣品

    分析有害物質,元素分析分之ppm - 100,符合RoHS / WEEE標準測試以及ELV指令優化的應用;

    可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析;

    電鍍溶液分析;

    定性分析超過30種元素,能夠測量液體,固體,粉末,薄膜和不規則形狀;

    貴金屬元素含量和分析(金,銀,鉑,和珠寶);

    自動過濾器,多準直儀(五個準直器,從0.1mm-3.0mm)和全自動XYZ移動樣品臺;

    性價比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器

    儀器尺寸:W610mm D670mm H490mm,重量:75Kg (net)                              

    可測量樣器大?。?/span>W550mm D550mm H30mm           

     

    韓國先鋒 XRF-2000 X射線鍍層測厚儀

    電鍍膜厚儀

    X射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質成分及電鍍層膜厚

    韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀

    檢測電子電鍍,化學電鍍層厚度,
    如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
    可測單層,雙層,多層,合金鍍層

    韓國Micro Pioneer XRF-2000X射線鍍層測厚儀

     

    1. H型: 密閉式樣品室,方便測量的樣品較大,高度約100mm以下。  
    2. L型:  密閉式樣品室,方便測量 樣品較小,高度約30mm以下。  

    3. PCB型: 開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下

     

     

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