<noframes id="zdd35"><form id="zdd35"></form>
<noframes id="zdd35">

    <span id="zdd35"></span>

    產品展示
    當前位置:首頁 > 產品展示 > X光鍍層測厚儀 > X熒光鍍層測厚儀 > X射線膜厚測量儀XRF-2000L型

    產品名稱:X射線膜厚測量儀XRF-2000L型

    產品型號:

    產品報價:

    產品特點:X射線熒光鍍層測厚儀無損膜厚儀
    檢測電子電鍍,化學電鍍層厚度,
    測量鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...
    可測單層,雙層,多層,合金鍍層
    X射線膜厚測量儀XRF-2000L型

    X射線膜厚測量儀XRF-2000L型的詳細資料:


    X射線膜厚測量儀XRF-2000L型


    韓國MicroP XRF-2020


    應用:


    1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層不限基材!

    1. 鍍層元素范圍:鈦~鈾,包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金,鉻,鋅鎳合金等。

    2. 鍍層層數:可測5層。

    3. 測量產品位置尺寸:標準配備0.2mm準直器,測量產品大于0.4mm(可訂制更小準直器)

    4. 測量時間:15秒。

    5. 測量誤差:小于5%,視樣品具體情況而定。

    6. 可測厚度范圍:0.02微米到50微米,視樣品組成和鍍層結構而定。


    638206168494733004311.jpg

    637854554497346979214.jpg


    X射線熒光鍍層測厚儀無損膜厚儀

    儀器規格

    XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

    XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg


    儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量

    多個準直器可選擇:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

    可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換


    Microp XRF-2020測厚儀(韓國微先鋒)


    快速無損測量鍍金,鍍銀,鍍錫,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅鎳合金等!


    測量原理:


    物質經X射線或粒子射線照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態,此物質必需將多余的能量釋放出來,而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度,來進行定性和定量分析。


    測試范圍  


    鍍金:0.02-6um

    鍍鈀:0.03-6um

    鍍鎳:0.5-30um

    鍍錫:0.3-50um

    鍍銀:0.1-50um

    鍍鉻:0.5-30um

    鍍鋅:0.5-30um

    鍍鋅鎳合金:0.5-30um


    X射線膜厚測量儀XRF-2000L型號已升級為XRF-2020





     如果你對X射線膜厚測量儀XRF-2000L型感興趣,想了解更詳細的產品信息,填寫下表直接與廠家聯系:

    留言框

    • 產品:

    • 您的單位:

    • 您的姓名:

    • 聯系電話:

    • 常用郵箱:

    • 省份:

    • 詳細地址:

    • 補充說明:

    • 驗證碼:

      請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7
    點擊這里給我發消息
    聯系人:樊先生
    手機:
    13761400826
    日韩Av免费一区